摘要
Abstract
第一章 前言
1.1 引言
1.2 集成电路接触工艺发展简史
1.3 SALICIDE常用硅化物特性介绍
1.3.1 TiSi_2
1.3.2 CoSi_2
1.3.3 NiSi
1.4 Ni-Co合金硅化物及本论文研究内容
第二章 Ni-Co合金硅化物样品的制备
2.1 Co-Ni合金硅化物薄膜样品的制备
2.1.1 衬底硅片的处理
2.1.2 物理气相淀积(PVD)Co-Ni合金薄膜
2.1.3 对样品进行快速热处理(RTP)
2.2 样品测试方法简介
2.2.1 四探针仪测量薄膜方块电阻
2.2.2 激光拉曼光谱
2.2.3 X射线衍射
2.2.4 透射电子显微镜(TEM)
第三章 Ni-Co合金硅化反应特性研究
3.1 引言
3.2 0%Co-100%Ni 合金硅化反应特性
3.3 25%Co-75%Ni 合金硅化反应特性
3.4 50%Co-50%Ni 合金硅化反应特性
3.5 75%Co-25%Ni 合金硅化反应特性
3.6 100%Co-0%Ni 合金硅化反应特性
3.7 Co-Ni合金硅化物的品格结构和外延性研究
3.8 本章小结
第四章 形成超薄Co-Ni合金二硅化物的反应动力学研究
4.1 引言
4.2 Ni-Co合金硅化反应的动力学解释
4.3 本章小结
第四章 总结和展望
参考文献
硕士阶段取得的学术成果
致谢