声明
摘要
1 绪论
1.1 研究背景与意义
1.2 国内外研究进展
1.3 论文的主要研究内容及论文结构安排
2 β-FeSi2的结构和相关测试手段
2.1 β-FeSi2的结构
2.2 β-FeSi2材料的测试方法
2.2.1 薄膜结构特性测试
2.2.2 电学特性测试
2.2.3 光学特性测试
3 β-FeSi2/SiC光电二极管特性理论分析
3.1 β-FeSi2/SiC光电二极管特性
3.2 模型与参数的选取
3.2.1 4H-SiC和β-FeSi2材料基本参数
3.2.2 迁移率模型
3.2.3 光吸收和电子-空穴产生率模型
3.2.4 复合模型
3.3 p-β-FeSi2/n-4H-SiC模拟结果
3.3.1 光电二极管能带图
3.3.2 界面态对光电二极管反向漏电流的影响
3.3.3 界面态对产生率和复合率的影响
3.3.4 光电二极管的I-V特性
3.3.5 β-FeSi2层浓度对光电二极管响应度的影响
3.3.6 β-FeSi2层厚度对光电二极管响应度的影响
3.3.7 入射光的不同方向对光电二极管响应度的影响
3.4 本章小结
4 实验与工艺
4.1 β-FeS2薄膜的制备
4.1.1 基于Si衬底的β-FoSi2薄膜的制备
4.1.2 基于4H-SiC(0001)衬底的β-FeSi2薄膜的制备
4.1.3 β-FeSi2薄膜的光学特性
4.2 β-FeSi2薄膜的掺杂
4.2.1 Al掺杂β-FeSi2薄膜的制备
4.2.2 Al掺杂β-FeSi2薄膜的特性
4.3 β-FeSi2光电二极管
4.3.1 β-FeSi2/Si异质结光电二极管的制备
4.3.2 β-FeSi2/Si异质结光电二极管的特性
4.3.3 β-FeSi2/4H-SiC异质结光电二极管的制备
4.3.4 β-FeSi2/4H-SiC异质结光电二极管的特性
4.4 本章小结
5 基于LabVIEW的测试平台
5.1 硬件平台
5.1.1 KEITHLEY6517A型静电计
5.1.2 AGILENT GPIB-USB 82357A接口总线
5.2 软件平台
5.3 测试系统软件设计
5.3.1 控制计算机与仪器的通讯设计
5.3.2 VISA函数库简介
5.3.3 I-V特性测试功能的设计
5.3.4 软件界面
5.4 测试系统的测试
5.4.1 测试条件
5.4.2 测试方案及结果
5.5 本章小结
6 结束语
致谢
参考文献
在校学习期间所发表的论文及获奖情况