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第一章绪论
第二章光电耦合器件的噪声理论基础
2.1光电耦合器件的类型
2.2噪声的理论基础
2.2.1噪声的数学基础
2.2.2噪声的分类
2.3光电耦合器件的噪声
2.3.1光电耦合器件的I-V特性
2.3.2光电耦合器件的白噪声
2.3.3光电耦合器件的1/f噪声
2.3.4光电耦合器件的g-r噪声
第三章加严筛选物理判据与筛选方法
3.1原有筛选判据与方法
3.2爆裂噪声与光耦器件可靠性及质量的关系
3.3爆裂噪声作为光电耦合器筛选的物理判据
3.3.1基于噪声物理判据筛选的优点
3.3.2明显爆裂噪声谱的拟合
3.3.3双谱作为基于爆裂噪声的光电耦合器筛选补充物理判据
3.3.4不明显爆裂噪声可以用双谱表征
3.4不含爆裂噪声的情况
3.5改进的筛选判据
第四章验证与应用
4.1光电耦合器件的测试
4.2筛选判据验证
4.2.1验证方案
4.2.2验证过程
4.2.3结果及结论
4.3筛选判据应用
4.3.1原判据
4.3.2新判据
第五章结论与展望
5.1论文成果
5.2展望
致谢
参考文献
在研期间主要研究成果