基于LXI总线的星载电子设备通用测试系统设计

摘要

随着国家综合国力的不断增强，以及航天技术在国防、通讯、深空探测等领域的广泛应用，国家对卫星、飞船等航天器的需求量也与日俱增。而作为卫星组成单元的单机电子设备及与之配套的专用测试系统的生产数量也相应增加。现有的专用测试系统研制模式已无法满足航天器生产、测试的需要。因此，如何利用测试领域的先进技术，结合航天测试领域的应用特点，研制面向多型号多设备通用的星载电子设备测试系统成为解决当前测试系统研制问题的有效方法。
　　 本文首先对目前测试领域著名的GPIB、VXI、PXI、LXI等几种总线进行了比较，对目前市场成熟的通用测试系统、测试设备进行适用性分析。以及对LXI总线的特点、分类、性能优势等进行说明。并在对星载单机电子设备测试需求、测试接口特性等充分了解的基础上，提出基于LXI总线的星载电子设备通用测试系统的设计要求及方案，并对通用测试系统的硬件、软件进行了设计。最后，通用测试系统通过实验验证及实际应用，验证了其测试功能、测试通用性和适用性能够满足设计要求。