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基于LXI总线的数字测试模块

摘要

本实用新型提供一种基于LXI总线的数字测试模块,包括SRAM控制电路、驱动器、信号连接器、FPGA、LXI接口电路、触发模块、DDS模块。本实用新型采用直接数字频率合成器(DDS可控时钟)产生频率可变时钟,使模块能以灵活多变的数据速率执行测试任务,时钟变化分辨率为0.004Hz,同时利用DDS可控相位的功能实现了采样时钟的一个周期内的调节;网络接口采用标准RJ45接插座,用户只需要用两头带RJ45插头的网线将数字模块与远程控制计算机连接即可,也可以通过10M/100M路由器连接;采用多种时钟控制,且针对不同的测试需要实现了灵活多样的触发控制。

著录项

  • 公开/公告号CN204666785U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2015-09-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201520393950.5

  • 申请日2015-06-09

  • 分类号G01R31/317(20060101);G01R31/3177(20060101);

  • 代理机构32207 南京知识律师事务所;

  • 代理人高娇阳

  • 地址 210039 江苏省南京市雨花台区国睿路8号

  • 入库时间 2022-08-22 00:49:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-08

    专利权的转移 IPC(主分类):G01R31/317 登记生效日:20191021 变更前: 变更后: 申请日:20150609

    专利申请权、专利权的转移

  • 2015-09-23

    授权

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