近场扫描光学显微镜对纳米结构材料的表征

摘要

该论文通过利用紫外可见光分光光度计(UV-Vsible Spectrometer)、时间分辨荧光光谱仪(Time-resolved spectrometer)、近场扫描光学隧道显微镜(Near Field Scanning Optic Microscope,NSOM)对纳米结构的材料进行光学性质的表征与结构研究.在对纳米材料的过去、现在和未来的发展进行评述的同时,对一些在光电领域具有潜在应用的纳米材料进行了化学和物理方法的制备.利用其它的研究手段来对纳米材料进行了分析和测量,通过用透射电镜(Transmission Electron Microscope,TEM)、以及X射线衍射仪(X-ray diffraction instrument)等仪器来进行研究它们的性质,从而从多角度、多方面来对纳米材料的性质进行研究.

目录

文摘

英文文摘

第一章 近场扫描光学显微镜的基本工作原理

§1.1近场扫描光学显微镜的研究进展

§1.2近场光学显微镜的成像原理

§1.3近场光学显微镜的工作模式、结构、组成

§1.4近场光学显微镜的成像和应用

第二章 纳米材料的基本性质

§2.1纳米材料的研究进展

§2.2纳米材料的基本效应

§2.2.1量子限域效应

§2.2.2表面效应

§2.2.3介电限域效应

§2.3纳米材料的物性及应用

§2.3.1化工催化方面的应用

§2.3.2环保方面的应用

§2.3.3光学方面的应用

§2.3.4在磁性材料方面的应用

§2.4纳米材料的光谱表征手段

第三章 纳米结构材料的制备及光谱表征

§3.1纳米半导体材料ZnO的制备与表征

§3.1.1试验部分

§3.1.2结果和讨论

§3.2长余辉发光材料的制备与表征

§3.2.1实验部分

§3.2.2结果与讨论

第四章 近场扫描光学显微镜对纳米结构材料的表征

§4.1近场扫描光学显微镜下的ZnO纳米半导体材料

§4.2长余辉发光材料SrO：Al2O3：Eu的近场图像

§4.3近场扫描光学显微镜对掺杂稀土离子Eu的聚合物光纤探针的研究

参考文献

致 谢

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