声明
摘要
第1章 绪论
1.1 课题研究背景及意义
1.1.1 课题研究背景
1.1.2 课题研究意义
1.2 课题研究现状
1.3 检验装置的技术指标
1.4 本文的主要工作
1.5 论文的组织结构
第2章 检验装置的总体设计方案
2.1 检验装置的总体结构
2.1.1 检验装置实现的主要功能及特点
2.1.2 检验装置的工作流程
2.2 检验装置的设计方案
2.3 本章小结
第3章 DDS技术在FPGA中的应用与仿真
3.1 频率合成技术简介
3.1.1 频率合成技术的发展
3.1.2 频率合成技术指标
3.2 直接数字频率合成原理
3.3 DDS的结构设计及仿真实现
3.3.1 DDS的总体结构设计
3.3.2 相位累加器设计及仿真
3.3.3 波形存储器ROM设计仿真
3.3.4 DDS系统的完整仿真
3.4 DDS的性能特点
3.5 DDS理想输出频谱特性
3.6 DDS实际频谱分析
3.6.1 相位截断误差
3.6.2 幅度量化误差
3.6.3 D/A线性误差
3.7 频谱杂散的改善
3.8 本章小结
第4章 检验装置的硬件电路设计
4.1 设计方案比较
4.2 现场可编程门阵列(FPGA)控制器及其外围电路设计
4.2.1 FPGA简介
4.2.2 FPGA配置电路设计
4.2.3 系统电源与晶振电路设计
4.2.4 通讯电路设计
4.3 D/A数模转换电路设计
4.3.1 双极性变换电路设计
4.3.2 幅值调节电路
4.4 滤波器设计
4.4.1 二阶压控有源滤波器原理
4.4.2 滤波器仿真分析
4.5 功率放大电路设计
4.5.1 放大电路组成及原理
4.5.2 功率放大电路仿真
4.6 采样电路设计
4.6.1 电压检测电路
4.6.2 电流检测电路设计
4.7 PCB硬件电路版图
4.8 本章小结
第5章 系统软件设计及实验结果分析
5.1 系统软件设计
5.2 硬件调试及实验结果分析
5.3 信号源精度分析
5.4 本章小结
第6章 总结与展望
参考文献
致谢