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1绪论
1.1波面相位检测技术
1.2光学元件和光学系统干涉计量测试
1.3本论文的研究背景
1.4所做的主要研究工作
2光学材料折射率不均匀性的测量
2.1引起光学玻璃内部折射率不均匀原因
2.2测量方法
2.2.1鉴别率法
2.2.2刀口阴影法
2.2.3直接测量法
2.2.4样品翻转法
2.2.5绝对测量法
2.3实验及数据处理
2.4 小结
3用干涉仪校正球径仪的测量误差
3.1球径仪的基本构造和测量原理
3.1.1球径仪的基本构造原理
3.1.2球径仪的基本测量原理
3.2 ZYGO ZMI测长系统
3.2.1 ZMI系统测量原理
3.2.2测量时需要注意的问题
3.3样板曲率半径的测量
3.3.1球径仪和标准样板
3.3.2用ZMI系统测量标准样板的曲率半径
3.4实验数据处理
3.5球径仪测量精度分析
3.6实验结果验证
3.7本章小结
4 CXM100-2W移相式斐索干涉仪研制
4.1系统简介
4.2移相干涉术算法原理
4.3 CXM100干涉仪的硬件系统
4.3.1干涉仪控制器
4.3.2移相系统
4.3.3图像采集系统
4.4 PSI移相干涉术处理软件
4.4.1锥体棱镜测试
4.4.2角度测试
4.4.3像质评价
4.5小结
5总结与展望
5.1本文所完成的工作
5.2有待进一步解决的问题
致 谢
参考文献