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Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis
Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis
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1.
Digital shearography for pure in-plane strain measurement on the object surface under three-dimensional strain conditions
机译:
用于在三维应变条件下对物体表面进行纯面内应变测量的数字剪切成像
作者:
Lian Xiang Yang
;
Univ. Kassel
;
Kassel
;
Germany
;
Wolfgang Steinchen
;
Univ. Kassel
;
Kassel
;
Germany
;
Gerhard Kupfer
;
Univ. Kassel
;
Kassel
;
Germany.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
2.
Investigation of speckle displacement effects on speckle interferometry
机译:
散斑位移对散斑干涉测量的影响研究
作者:
Yaozu Song
;
Tsinghua Univ. (China)
;
Univ. Stuttgart
;
Beijing
;
China
;
Ying Wu
;
Tsinghua Univ.
;
Beijing
;
China
;
Rudi Kulenovic
;
Univ. Stuttgart
;
Stuttgart
;
Germany
;
Manfred Groll
;
Univ. Stuttgart
;
Stuttgart
;
Germany.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
3.
Speckle noise removal in interference fringes by optoelectronic preprocessing with Epson liquid crystal television
机译:
通过爱普生液晶电视的光电预处理消除干涉条纹中的斑点噪声
作者:
Bertrand Trolard
;
Worcester Polytechnic Institute
;
Univ. de Franche-Comte
;
Worcester
;
MA
;
USA
;
Christophe Gorecki
;
Univ. de Franche-Comte
;
Tokyo
;
Japan
;
Gilbert M. Tribillon
;
Univ. de Franche-Comte
;
Besancon Cedex
;
France.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
4.
Two-color laser speckle shift strain measurement system
机译:
二色激光散斑应变测量系统
作者:
Margaret L. Tuma
;
NASA Lewis Research Ctr.
;
Strongsville
;
OH
;
USA
;
John P. Barranger
;
NASA Lewis Research Ctr.
;
Cleveland
;
OH
;
USA
;
Lawrence G. Oberle
;
NASA Lewis Research Ctr.
;
Cleveland
;
OH
;
USA
;
Lawrence C. Greer
;
III
;
NASA Lewis Research Ctr.
;
Cleveland
;
OH
;
USA
;
Michael J. Krasowski
;
NASA Lewis Research Ctr.
;
Cleveland
;
OH
;
USA
;
Daniel Spina
;
NASA Lewis Research Ctr.
;
Cleveland
;
OH
;
USA.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
5.
Generalized algorithm for phase shifting interferometry
机译:
相移干涉术的通用算法
作者:
Shouhong Tang
;
Phase Shift Technology
;
Inc.
;
Tucson
;
AZ
;
USA.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
6.
Holographic microscope for measuring displacements of vibrating microbeams using time-average holography
机译:
全息显微镜,用于使用时间平均全息术测量振动微束的位移
作者:
Gordon C. Brown
;
Worcester Polytechnic Institute
;
Worcester
;
MA
;
USA
;
Ryszard J. Pryputniewicz
;
Worcester Polytechnic Institute
;
Worcester
;
MA
;
USA.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
7.
Unwrapping of noisy phase maps: a comparison of two methods
机译:
展开嘈杂的相位图:两种方法的比较
作者:
Author(s): Ramon Rodriguez-Vera Ctr. de Investigaciones en Optica A.C. Leon Gto Mexico
;
Guillermo H. Kaufmann Instituto de Fisica Rosario Rosario Argentina
;
Manuel Servin Ctr. de Investigaciones en Optica A.C. Leon Gto Mexico
;
Andrew J. Moore Ctr. de Investigaciones en Optica A.C. Edinburgh United Kingdom.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
8.
Errors in two-directional spatial-carrier phase shifting method for closed fringe patterns analysis
机译:
闭合条纹图案分析中双向空间载波相移方法中的误差
作者:
Maria Pirga
;
Warsaw Univ. of Technology
;
Warszawa
;
Poland
;
Malgorzata Kujawinska
;
Warsaw Univ. of Technology
;
Warszawa
;
Poland.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
9.
Measurement of shape and vibration using a single electronic speckle interferometry configuration
机译:
使用单个电子散斑干涉仪配置测量形状和振动
作者:
Frank Chen
;
Ford Motor Co.
;
Dearborn
;
MI
;
USA
;
Christopher T. Griffen
;
Ford Motor Co.
;
Dearborn
;
MI
;
USA
;
Thomas E. Allen
;
Ford Research Lab.
;
Dearborn
;
MI
;
USA
;
Gordon M. Brown
;
Optical Systems Engineering
;
Dearborn
;
MI
;
USA.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
10.
Phase-shifted real-time laser feedback interferometry
机译:
相移实时激光反馈干涉仪
作者:
Ben Ovryn
;
NASA Lewis Research Ctr.
;
Cleveland
;
OH
;
USA
;
James H. Andrews
;
NASA Lewis Research Ctr.
;
Cleveland
;
OH
;
USA
;
Steven J. Eppell
;
Case Western Reserve Univ.
;
Cleveland
;
OH
;
USA
;
John D. Khaydarov
;
NASA Lewis Research Ctr.
;
Cleveland
;
OH
;
USA.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
11.
Source modulation for phase shifting in static and dynamic speckle shearing interferometry
机译:
静态和动态散斑剪切干涉法中相移的源调制
作者:
J.-R. Huang
;
Cranfield Univ.
;
Cranfield Bedford
;
United Kingdom
;
Helen D. Ford
;
Cranfield Univ.
;
Cranfield Bedford
;
United Kingdom
;
Ralph P. Tatam
;
Cranfield Univ.
;
Cranfield Beds
;
United Kingdom.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
12.
Surface profile determination by additive-subtractive phase-modulated ESPI with Fourier analysis
机译:
用加减法相调制ESPI进行傅立叶分析确定表面轮廓
作者:
Liusheng S. Wang
;
Northwestern Univ.
;
Wilton
;
CT
;
USA
;
Sridhar Krishnaswamy
;
Northwestern Univ.
;
Evanston
;
IL
;
USA.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
13.
Optoelectronic developments in speckle interferometry
机译:
散斑干涉术中的光电发展
作者:
Ralph P. Tatam
;
Cranfield Univ.
;
Cranfield Beds
;
United Kingdom.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
14.
General hierarchical a
机译:
通用等级a
作者:
Wolfgang Osten
;
Bremer Institut fuer Angewandte Strahltechnik
;
Lilienthal
;
Germany
;
Werner Nadeborn
;
Bremer Institut fuer Angewandte Strahltechnik
;
Bremen
;
Germany
;
Peter Andrae
;
Bremer Institut fuer Angewandte Strahltechnik
;
Bremen
;
Germany.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
15.
Laseroptical strain sensor: technique and a
机译:
激光应变传感器:技术和应用
作者:
Andreas Ettemeyer
;
Dr. Ettemeyer GmbH Co.
;
Neu-Ulm
;
Germany.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
16.
Unwrapping of noisy phase maps: a comparison of two methods,
机译:
展开嘈杂的相位图:两种方法的比较,
作者:
Ramon Rodriguez-Vera
;
Ctr. de Investigaciones en Optica
;
A.C.
;
Leon
;
Gto
;
Mexico
;
Guillermo H. Kaufmann
;
Instituto de Fisica Rosario
;
Rosario
;
Argentina
;
Manuel Servin
;
Ctr. de Investigaciones en Optica
;
A.C.
;
Leon
;
Gto
;
Mexico
;
Andrew J. Moore
;
Ctr. de Investigaciones en Optica
;
A.C.
;
Edinburgh
;
United Kingdom.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
17.
Least-squares fitting of a sinusoidal signal and its Fourier analysis
机译:
正弦信号的最小二乘拟合及其傅里叶分析
作者:
Daniel Malacara-Hernandez
;
Ctr. de Investigaciones en Optica
;
A.C.
;
Leon GTO
;
GU
;
Mexico
;
Daniel Malacara-Doblado
;
Ctr. de Investigaciones en Optica
;
A.C.
;
Leon
;
GU
;
Mexico
;
Manuel Servin
;
Ctr. de Investigaciones en Optica
;
A.C.
;
Leon
;
Gto
;
Mexico.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
18.
Smart fringe image processing system
机译:
智能边缘图像处理系统
作者:
Malgorzata Kujawinska
;
Warsaw Univ. of Technology
;
Warszawa
;
Poland
;
Cezary Kosinski
;
Warsaw Univ. of Technology
;
Warszawa
;
Poland.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
19.
Stereometric matching using Gabor functions versus structured light-shape detection methods
机译:
使用Gabor函数的立体匹配与结构化的光形检测方法
作者:
Jerzy M. Woznicki
;
Warsaw Univ. of Technology
;
Warsaw
;
Poland
;
Marcin Zapendowski
;
Warsaw Univ. of Technology
;
Warsaw
;
Poland.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
20.
Some applications of quadratic cost functionals in fringe analysis
机译:
二次成本函数在条纹分析中的一些应用
作者:
Author(s): Manuel Servin Ctr. de Investigaciones en Optica A.C. Leon Gto Mexico
;
Jose L. Marroquin Ctr. de Investigaciones en Matematicas A.C. Guanajuato Gto Mexico
;
Daniel Malacara-Hernandez Ctr. de Investigaciones en Optica A.C. Leon GTO GU Mexico.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
21.
Application of imaging conoscope for optical inhomogeneity testing in LiNbO3 crystals and components
机译:
成像锥在LiNbO3晶体及成分光学不均匀性检测中的应用
作者:
Author(s): Andrzej L. Bajor Institute of Electronic Materials Technology Warsaw Poland.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
22.
Desensitized TV holography applied to static and vibrating objects forlarge deformation measurements,
机译:
将脱敏电视全息技术应用于静态和振动物体,以进行大变形测量,
作者:
Henrik O. Saldner
;
Lulea Univ. of Technology
;
Lulea
;
Sweden
;
Nils-Erik Molin
;
Lulea Univ. of Technology
;
Lulea
;
Sweden
;
Nandigana Krishna Mohan
;
Indian Institute of Technology Madras
;
Madras
;
India.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
23.
Fourier transform technique for phase unwra
机译:
相位展开的傅里叶变换技术
作者:
Mariano Rivera
;
Ctr. de Investigaciones en Optica
;
A.C.
;
Leon
;
GU
;
Mexico
;
Manuel Servin
;
Ctr. de Investigaciones en Optica
;
A.C.
;
Leon
;
Gto
;
Mexico
;
Jose L. Marroquin
;
Ctr. de Investigaciones en Matematicas
;
A.C.
;
Guanajuato
;
Gto
;
Mexico.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
24.
Application of imaging conoscope for optical inhomogeneity testing inLiNbO3 crystals and components,
机译:
成像镜在LiNbO3晶体和成分的光学不均匀性测试中的应用
作者:
Andrzej L. Bajor
;
Institute of Electronic Materials Technology
;
Warsaw
;
Poland.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
25.
Some applications of quadratic cost functionals in fringe analysis,
机译:
二次成本函数在条纹分析中的一些应用,
作者:
Manuel Servin
;
Ctr. de Investigaciones en Optica
;
A.C.
;
Leon
;
Gto
;
Mexico
;
Jose L. Marroquin
;
Ctr. de Investigaciones en Matematicas
;
A.C.
;
Guanajuato
;
Gto
;
Mexico
;
Daniel Malacara-Hernandez
;
Ctr. de Investigaciones en Optica
;
A.C.
;
Leon GTO
;
GU
;
Mexico.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
26.
Spatially frequency-multiplexed number-theoretic phase unwrappingtechnique for the Fourier-transform profilometry of objects with heightdiscontinuities and/or spatial isolations,
机译:
具有高度不连续和/或空间隔离的对象的傅立叶变换轮廓测量的空间频率复用数论相位展开技术,
作者:
Mitsuo Takeda
;
Univ. of Electro-Communications
;
Chofu-shi Tokyo
;
Japan
;
Quan Gu
;
Univ. of Electro-Communications
;
Tokyo
;
Japan
;
Masaya Kinoshita
;
Univ. of Electro-Communications
;
Tokyo
;
Japan
;
Hideaki Takai
;
Univ. of Electro-Communications
;
Tokyo
;
Japan
;
Yousuke Takahashi
;
Univ. of Electro-Communications
;
Tokyo
;
Japan.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
27.
Dynamic holographic interferometric-DHI sensor on adaptive supergrating
机译:
基于自适应光栅的动态全息干涉DHI传感器
作者:
George E. Dovgalenko
;
IRPA Rotor-Control
;
Fayetteville
;
AR
;
USA
;
Irina I. Loutchkina
;
IRPA Rotor-Control
;
Kiev
;
Ukraine.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
28.
Feedback type of laser diode interferometer with an optical fiber
机译:
反馈型光纤激光二极管干涉仪
作者:
Takamasa Suzuki
;
Niigata Univ.
;
Tucson
;
AZ
;
USA
;
Takao Okada
;
Niigata Univ.
;
Niigata-shi
;
Japan
;
Osami Sasaki
;
Niigata Univ.
;
Niigata-shi
;
Japan
;
Takeo Maruyama
;
Niigata Univ.
;
Niigata-shi
;
Japan.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
29.
Light-in-flight measurements by digital holography
机译:
通过数字全息术进行飞行中的光测量
作者:
Werner P. Jueptner
;
Bremer Institut fuer Angewandte Strahltechnik
;
Bremen
;
Germany
;
Juan A. Pomarico
;
Ctr. de Investigaciones en Opticas
;
A.C.
;
La Plata
;
Buenos Aires
;
Argentina
;
Ulf Schnars
;
OHB-System GmbH
;
Bremen
;
Germany.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
30.
Minimizing the effects of threshold setting errors detection shading and noise errors in fringe patterns
机译:
最小化条纹图案中阈值设置错误检测阴影和噪声错误的影响
作者:
Jerzy M. Woznicki
;
Warsaw Univ. of Technology
;
Warsaw
;
Poland
;
Grzegorz Kukielka
;
Warsaw Univ. of Technology
;
Warsaw
;
Poland.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
31.
Modified in-plane electronic speckle pattern shearing interferometry (ESPSI)
机译:
改进的面内电子散斑图案剪切干涉仪(ESPSI)
作者:
Krzysztof Patorski
;
Warsaw Univ. of Technology
;
Warsaw
;
Poland
;
Artur G. Olszak
;
Warsaw Univ. of Technology
;
Tucson
;
AZ
;
USA.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
32.
Achromatic phase shifting for polarization interferometry
机译:
偏振干涉仪的消色差相移
作者:
Parameswaran Hariharan
;
Univ. of Sydney
;
Lindfield NSW
;
Australia
;
Maitreyee Roy
;
Univ. of Sydney
;
Sydney
;
Australia.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
33.
Optical flat surfaces: subtraction of small-scale irregularities of the reference surface
机译:
光学平面:减去参考表面的小尺寸不规则度
作者:
Parameswaran Hariharan
;
CSIRO
;
Lindfield NSW
;
Australia
;
Mark A. Suchting
;
CSIRO
;
Lindfield NSW
;
Australia.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
34.
Optical device positioning by using Becke lines
机译:
使用Becke线定位光学设备
作者:
Tetsufumi Shoji
;
NTT Interdisciplinary Research Labs.
;
Tokyo
;
Japan
;
Fusao Shimokawa
;
NTT Interdisciplinary Research Labs.
;
Tokyo
;
Japan
;
Yasuhide Nishida
;
NTT Interdisciplinary Research Labs.
;
Tokyo
;
Japan.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
35.
Double shear speckle interferometry for curvature measurement
机译:
双剪切散斑干涉法用于曲率测量
作者:
A.R. Ganesan
;
Indian Institute of Technology Madras
;
Madras
;
India
;
V.M. Murukeshan
;
Indian Institute of Technology Madras
;
Madras
;
India
;
Peter Meinlschmidt
;
Univ. Oldenburg
;
Oldenburg
;
Germany
;
Rajpal S. Sirohi
;
Indian Institute of Technology Madras
;
Oldenburg
;
Germany.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
36.
Infrared interferometer for optical testing
机译:
用于光学测试的红外干涉仪
作者:
Klaus R. Freischlad
;
Phase Shift Technology
;
Inc.
;
Tucson
;
AZ
;
USA
;
Jasmin Cote
;
Phase Shift Technology
;
Inc.
;
Tucson
;
AZ
;
USA.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
37.
Recordable depth-of-view and allowable farthest far-field distance of off-axis holography for particle sizing
机译:
可记录的视角深度和离轴全息术允许的最远距离
作者:
Tianshu Lai
;
Zhongshan Univ.
;
Guangzhou Guangdong
;
China
;
Weizhu Lin
;
Zhongshan Univ.
;
Guangzhou Guangdong
;
China.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
38.
Self-calibrating five-frame algorithm for phase-shifting interferometry
机译:
自校正五帧相移干涉测量算法
作者:
Shouhong Tang
;
Phase Shift Technology
;
Inc.
;
Tucson
;
AZ
;
USA.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
39.
Surface measurement of optical cylinder using multiaperture overlap-scanning technique (MAOST)
机译:
使用多孔径重叠扫描技术(MOST)的光学圆柱体表面测量
作者:
Weiming Cheng
;
Shanghai Univ.
;
Shanghai
;
China
;
Ming-yi Chen
;
Shanghai Univ.
;
Jiading Shanghai
;
China.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
40.
Spatially frequency-multiplexed number-theoretic phase unwrapping technique for the Fourier-transform profilometry of objects with height discontinuities and/or spatial isolations
机译:
空间频率复用数论相位展开技术,用于高度不连续和/或空间隔离的对象的傅里叶变换轮廓测量
作者:
Author(s): Mitsuo Takeda Univ. of Electro-Communications Chofu-shi Tokyo Japan
;
Quan Gu Univ. of Electro-Communications Tokyo Japan
;
Masaya Kinoshita Univ. of Electro-Communications Tokyo Japan
;
Hideaki Takai Univ. of Electro-Communications Tokyo Japan
;
Yousuke Takahashi Univ. of Electro-Communications Tokyo Japan.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
41.
Desensitized TV holography applied to static and vibrating objects for large deformation measurements
机译:
脱敏电视全息技术应用于静态和振动物体的大变形测量
作者:
Author(s): Henrik O. Saldner Lulea Univ. of Technology Lulea Sweden
;
Nils-Erik Molin Lulea Univ. of Technology Lulea Sweden
;
Nandigana Krishna Mohan Indian Institute of Technology Madras Madras India.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
42.
Design of a 24-in. phase shifting Fizeau interferometer
机译:
24英寸设计。移相斐索干涉仪
作者:
Chiayu Ai
;
WYKO Corp.
;
Tucson
;
AZ
;
USA
;
Robert E. Knowlden
;
WYKO Corp.
;
Tucson
;
AZ
;
USA
;
Joseph A. Lamb
;
WYKO Corp.
;
Tucson
;
AZ
;
USA.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
43.
Influence of the spectral properties of a wavelength-modulated laser diode on the resulting interferogram
机译:
波长调制激光二极管的光谱特性对所得干涉图的影响
作者:
Anna Kozlowska
;
Warsaw Univ. of Technology
;
Warszawa
;
Poland
;
Christophe Gorecki
;
Univ. de Franche-Comte
;
Tokyo
;
Japan.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
44.
Real-time visualization of dynamic holographic interferometric images using photorefractive crystals
机译:
使用光折射晶体实时显示动态全息干涉图像
作者:
Bruno F. Pouet
;
Northwestern Univ.
;
Evanston
;
IL
;
USA
;
Sridhar Krishnaswamy
;
Northwestern Univ.
;
Evanston
;
IL
;
USA.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
45.
Actively phase-compensated portable fiber optic electronic speckle pattern interferometer (ESPI) for long-term in-situ measurements
机译:
有源相位补偿便携式光纤电子散斑图案干涉仪(ESPI)用于长期原位测量
作者:
Alexander Brozeit
;
Carl von Ossietzky Univ.
;
Oldenburg
;
Germany
;
Klaus D. Hinsch
;
Carl von Ossietzky Univ.
;
Oldenburg
;
Germany.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
46.
Spatial domain method of DSPI fringe pattern recognition
机译:
DSPI条纹图案识别的空间域方法
作者:
Xiaoyuan He
;
Southeast Univ.
;
Nanjing
;
China
;
Zhu Xu
;
Southeast Univ.
;
Nanjing Jiangsu
;
China
;
Wei Heng
;
Southeast Univ.
;
Nanjing
;
China.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
47.
Holographic analogy of the spatial radial carrier analysis of interferograms
机译:
干涉图的空间径向载波分析的全息类比
作者:
Jorge L. Garcia-Marquez
;
Ctr. de Investigaciones en Optica
;
A.C.
;
Leon
;
GU
;
Mexico
;
Daniel Malacara-Hernandez
;
Ctr. de Investigaciones en Optica
;
A.C.
;
Leon GTO
;
GU
;
Mexico.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
48.
Improved signal processing method for heterodyne interferometer
机译:
外差式干涉仪的改进信号处理方法
作者:
Hongzhi Zhao
;
Tsinghua Univ.
;
Beijing
;
China
;
Yang Zhao
;
Tsinghua Univ.
;
Beijing
;
China.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
49.
Measuring convergence or divergence power with moire fringes
机译:
用莫尔条纹测量会聚或发散能力
作者:
Daniel Malacara-Doblado
;
Ctr. de Investigaciones en Optica
;
A.C.
;
Leon
;
GU
;
Mexico
;
Daniel Malacara-Hernandez
;
Ctr. de Investigaciones en Optica
;
A.C.
;
Leon GTO
;
GU
;
Mexico.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
50.
Leaky waveguide laser diodes for advanced manufacturing and metrology
机译:
用于先进制造和计量的泄漏波导激光二极管
作者:
Jingchang Zhong
;
Changchun Institute of Optics
;
Fine Mechanics
;
Changchun Jilin
;
China
;
Ronghui Li
;
Changchun Institute of Optics
;
Fine Mechanics
;
Changchun Jilin
;
China
;
Yingjie Zhao
;
Changchun Institute of Optics
;
Fine Mechanics
;
Changchun Jilin
;
China
;
Yi Qu
;
Changchun Institute of Optics
;
Fine Mechanics
;
Changchun Jilin
;
China.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
51.
Evaluation of fringe patterns in an optimized holographic interferometric microscope with conjugated reconstruction
机译:
共轭重建的优化全息干涉显微镜中条纹图的评估
作者:
Guenther K. Wernicke
;
Humboldt Univ. Berlin
;
Erkner
;
Germany
;
Oliver Kruschke
;
Humboldt Univ. Berlin
;
Puchheim
;
Germany
;
Torsten Huth
;
Humboldt Univ. Berlin
;
Teltow
;
Germany
;
Nazif Demoli
;
Humboldt Univ. Berlin (Germany)
;
Zagreb
;
Croatia
;
Hartmut Gruber
;
Humboldt Univ. Berlin
;
Berlin
;
Germany.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
52.
Nonoptical surface measurement by oblique incidence interferometry
机译:
斜入射干涉法测量非光学表面
作者:
Yukitoshi Otani
;
Tokyo Univ. of Agriculture
;
Technology
;
Koganei-shi Tokyo
;
Japan
;
Naoko Okuhara
;
Tokyo Univ. of Agriculture
;
Technology
;
Koganei
;
Tokyo
;
Japan
;
Toru Yoshizawa
;
Tokyo Univ. of Agriculture
;
Technology
;
Koganei
;
Tokyo
;
Japan.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
53.
Precise surface measurement by local sampling phase shifting technique
机译:
通过局部采样相移技术进行精确的表面测量
作者:
Yukitoshi Otani
;
Tokyo Univ. of Agriculture
;
Technology
;
Koganei-shi Tokyo
;
Japan
;
Hiroatsu Mori
;
Tokyo Univ. of Agriculture
;
Technology
;
Koganei
;
Tokyo
;
Japan
;
Toru Yoshizawa
;
Tokyo Univ. of Agriculture
;
Technology
;
Koganei
;
Tokyo
;
Japan.
会议名称:
《Laser Interferometry VIII: Techniques and Analysis》
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