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声明
第一章绪论
1.1研究背景
1.2文章结构
第二章实验方法综述及研究现状
2.1实验方法综述
2.1.1稳态光加热法
2.1.2瞬态光加热法
2.1.3稳态电加热法
2.1.4瞬态电加热法
2.2薄膜导热系数测试的研究现状
第三章3ω实验方法
3.1经典3 ω方法
3.2测试薄膜的3ω方法
3.3样品的制作
3.4实验台搭建及实验过程
3.5实验台的标定
第四章InGaAs/InGaAsP超晶格薄膜导热系数测试
4.1测试结果
4.2理论分析
4.2.1导热系数与温度的关系
4.2.2导热系数与超晶格周期长度的关系
4.2.3导热系数最小值与声子平均自由程的关系
4.3误差分析
4.3.1随机误差
4.3.2系统误差
第五章结论与展望
5.1结论
5.2展望
致谢
参考文献
附录
攻读硕士学位期间发表的学术论文