声明
摘要
第一章 绪论
1.1 研究背景和意义
1.2 论文主要工作和创新点
1.2.1 主要工作
1.2.2 创新点
1.3 论文组织结构
第二章 SoC硅前性能评估方法研究综述
2.1 测试程序相关研究
2.1.1 测试程序与测试集简介
2.1.2 测试集子集提取相关研究
2.2 性能分析模型相关研究
2.3 本章小结
第三章 SoC通用处理应用测试集研究
3.1 测试集代表性子集提取概述
3.2 微架构无关负载分析方法研究
3.2.1 微架构无关负载特性定义
3.2.2 微架构无关负载特性获取
3.3 代表性最优子集提取方法研究
3.4 测试集代表性子集提取流程与结果
3.4.1 原始测试集说明
3.4.2 测试程序特性分析
3.4.3 测试集代表性子集提取
3.4.4 测试集子集代表性验证
3.5 本章小结
第四章 SoC硬件性能分析模型研究
4.1 SoC基础架构简介
4.2 微处理器性能分析模型
4.2.1 微处理器性能分析模型简介
4.2.2 微处理器性能分析模型建立
4.3 微处理器程序执行时间与访存延时关系模型
4.3.1 存储级并行度
4.3.2 分离的访存请求(MLP=1)
4.3.3 交叠的访存请求(MLP>1)
4.4 存储系统访存延时分析模型
4.4.1 目标存储系统简介
4.4.2 访存请求服务流程分析
4.4.3 存储器忙碌时间分析方法
4.4.4 存储系统访存延时分析模型
4.5 本章小结
第五章 SoC性能评估方法验证与应用
5.1 验证环境设计
5.2 存储系统访存延时分析模型验证
5.2.1 存储系统访存延时分析模型验证
5.2.2 存储系统访存延时分析模型验证小结
5.3 微处理器程序执行时间与访存延时关系模型验证
5.4 基于分析模型的SoC硅前性能评估与实际应用
5.5 本章小结
第六章 总结与展望
6.1 研究工作的总结
6.2 进一步研究的展望
致谢
参考文献
博士阶段获得的研究成果