Poisson型电子设备可靠性增长数据的Fiducial统计推断

摘要

随着科学技术的不断发展，许多领域的电子产品需要进行可靠性增长试验，用来判断电子设备正常工作的概率。通过数据服从某种分布而进行可靠性分析已成为对某种电子设备的重要判断标准。在已经趋于成熟的分布中，多受到资金、人力和时间的限制。随着人们对快速及节约资源的分析处理方法认识的提高，应该寻找更为具有针对性的推断方法。Poisson分布的特性可以摆脱在可靠性增长试验过程中设备失效必须观测到准确的时间点的束缚，甚至不需要观测到设备失效的时间区间。
　　本文针对Poisson型电子设备的可靠性增长试验数据，在相应的单调约束模型下，利用：Fiducial推断方法，讨论电子设备失效率的置信上限。由于多次故障情况的可靠性增长模型下的计算通常非常繁杂，同时减少参数的数量，本文采用了单调约束模型，给出了用：Fiducial推断计算出Poisson分布参数置信限的过程，从而降低了计算的难度。最后通过实例，并将Poisson分布与指数分布下的计算结果进行了比较，进一步验证了所提出方法的可行性，为Poisson型电子设备的可靠性增长试验数据的分析提供了参考。

目录

声明

第 一 章 绪论

§1.1 研究背景及研究意义

§1.2 研究现状及发展

§1.3 研究内容及方法

第 二 章 相 关 概 念 的 界 定 及 原 理

§2.1 可靠性增长试验

§ 2 . 2 Fiducial方法

§ 2 . 3 Poisson分布

第 三 章 模 型 的 确 定

§3.1 建立可靠性增长模型过程描述

§3.2 模型系数确定方法

§3.3 单调约束模型

第四章Poisson型 设 备 可 靠 性 的 统 计 推 断

§4.1试验数据的处理方法

§4.2发生一次故障的处理

§4.3 两次及以上故障的处理计算方法

§4.4 实例分析

第 五 章 结 束 语

参考文献

致谢