智能手机基带芯片的可靠性测试与失效分析

摘要

可靠性是智能手机基带芯片产品质量的重要衡量指标之一，也是产品走向市场后是否能够具备足够的市场竞争力的前提。可靠性测试作为集成电路产品质量相关的重要测试方法，这项新兴学科越发得到企业和用户的高度关注。集成电路技术的快速发展，带动了智能手机芯片市场发展，需要面对更多挑战，智能手机基带芯片特征尺寸的不断减小也对产品的可靠性有了越来越高的需求，而产品质量不能仅仅依靠单纯的测试来淘汰不良品，这无法满足对产品质量的整体把控和提升，因此，失效分析学科应运而生。产品发生失效常常连带降低整个型号产品的良率，给企业带来损失，失效分析是能够从根本上分析出症结所在，同时杜绝类似失效持续产生的最佳手段。在基带芯片产品可靠性测试基础上运用失效分析手段追溯失效根源，可以有效的将产品良率提高。
　　本文以国产主流智能手机基带芯片产品为样本，从可靠性测试流程设计、测试条件把控、测试结果分析、失效分析等方面对智能手机基带芯片的后端质量进行分析。针对智能手机基带芯片产品的生命周期建立可靠性数学模型，提出早期失效率的计算方法，并对早期失效率的计算准确性提出优化方案；基于可靠性测试标准制定测试取样模式，制定符合生产实际的可靠性测试流程及测试条件，提取失效样本；针对失效芯片及相应批次产品进行数据失效分析、电性失效分析及物理失效分析，定位失效位置与失效机理，从而提出可行性产品良率提升建议。

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第一章 绪 论

1.1 论文的研究背景及意义

1.2 智能手机基带芯片可靠性测试与失效分析的历史与现状

1.3 本文研究的主要内容

第二章 基带芯片可靠性测试的数学模型

2.1 可靠性相关的函数描述

2.2 可靠性中常见的数学模型

第三章 基带芯片的可靠性测试

3.1 早夭期-早期失效测试

3.2 使用期常规可靠性测试

3.3 常规可靠性测试结果分析

第四章 基带芯片的失效分析

4.1 失效分析的方法与技术

4.2 失效分析中的化学方法

4.3 失效分析的流程

第五章 失效样本分析与良率提升

5.1 WAT测试

5.2 CP测试后的失效分析

5.3 FT测试后的失效分析

5.4 样本A的ESD失效分析

5.5 样本B的失效分析

5.6 失效分析小结与产品良率提升

结论

致谢

参考文献