声明
摘要
1 绪论
1.1 论文选题背景
1.2 有机半导体的电子结构
1.2.1 从单原子到固体电子结构的变化
1.2.2 有机固体中的能带及分子轨道
1.2.3 碳原子轨道的杂化
1.3 有机半导体的界面性质
1.3.1 金属和半导体中费米能
1.3.2 真空能接合
1.3.3 界面偶极子的形成
1.3.4 能带弯曲
1.4 MoO3居间层在有机半导体器件中的应用
1.5 本文研究内容和章节安排
2 实验技术和设备
2.2 实验技术
2.2.1 X射线光电子能谱仪
2.2.2 紫外光电子能谱
2.2.3 反光电子能谱仪
2.2.4 表面分析探针可能造成的表面破坏
2.3 样品制备
2.3.1 薄膜沉积
2.3.2 逐层测量
2.3.3 表面清洁和UHV要求
2.4 实验仪器
2.4.1 光电子能谱仪系统
2.4.2 反光电子能谱仪系统
3 空气暴露下MoOx薄膜的表面氧等离子体处理
3.1 概述
3.2 引言
3.3 薄膜的制备与表征
3.4 结果与讨论
3.5 本章小结
4 C60/TAPC/MoOx/ITO界面电子结构演化和能级接合
4.1 概述
4.2 引言
4.3 实验方法
4.4 结果与讨论
4.5 结论
5 总结与展望
5.1 总结
5.2 展望
参考文献
攻读学位期间主要的研究成果
致谢