摘要
ABSTRACT
第一章 绪论
1.集成电路自动测试技术
2.电子设计自动化的发展给测试技术带来的新挑战
3.RTL集成电路测试技术发展现状
4.本文的研究内容
第二章 电路测试的基本概念和理论
1.测试
2.故障和故障模型
2.1故障
2.2故障模型
3.组合电路测试生成与测试生成算法
3.1确定性测试生成
3.2组合电路测试生成算法
3.3 FAN算法的基本概念和思想
4.结构测试与功能测试
第三章 硬件描述语言
1.EDA设计主要流程
2.硬件描述语言的特点
2.1系统级(System Level)
2.2行为级(Behavior Level)
2.3寄存器传输级(RTL：Reg i ster Transfer Level)
2.4逻辑门级(Gate Level)
2.5开关级(Switch Level)
3.Verilog HDL
4.RTL硬件描述的特点
第四章 Verilog HDL编译器的设计与实现
1.面向功能和面向结构的编译器
1.1面向功能的编译器
1.2面向结构的编译器
2.总体结构
2.1文本过滤器
2.2语法解析器
2.3模块对象生成器
2.4模块类型库
2.5模块平面化
3.功能模块对象的数据结构
4.设计与实现中的几个关键问题和解决方法
4.1与程序设计语言编译器的不同点和处理策略
4.2对分支信号线的处理
4.3对于矢量型信号线的处理
4.4对于buffer类型的处理
5.小结
第五章 基于相似电路的RTL组合电路测试生成技术研究
1.组合电路信号线矢量的分析
1.1信号线矢量表示的定义
1.2几种矢量连接形式的分析
2.相似电路
3.基于相似电路的测试生成方法
4.实验结果
5.小结
第六章 基于相似电路的测试在存储型故障中的应用
1.CMOS逻辑门电路内部故障的分析
1.1 CMOS逻辑门电路的结构
1.2 CMOS逻辑门内部单开路故障引起的存储型故障
2.存储型故障测试的必要条件
3.组合电路测试集应用于存储型故障
4.基于相似电路的测试应用于存储型故障
5.小结
第七章 结束语
参考文献
致谢
湖南大学;
