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王松;
湖南大学;
低功耗测试; 可测试性设计; 扫描结构; 移入阶段; 捕获阶段; 集成电路;
机译:低功耗扫描测试:基于扫描链分区和基于扫描保持的技术
机译:高效的部分扫描单元选通,可用于基于低功耗扫描的测试
机译:基于加权伪随机测试码型生成和重播的基于低功耗扫描的内置自测
机译:扫描基于扫描测试期间低功耗的扫描细胞重新排序算法
机译:低功耗扫描测试和测试数据压缩
机译:Hemnma-3D:基于正常模式分析的Cryo电子断层扫描方法研究高分子复合物的连续构象变化
机译:使用两级扫描架构限制低功耗扫描测试的转换传播
机译:基于介电的粘接剂结构无损检测方法的发展:一项基础研究。粘接剂结构表征的介电方法研究
机译:方法研究基于喇叭内表面的集成激光扫描,无线电波辐射,来自位于技术设备(外壳)上的源的磁场测量,以移动自主渐进结构,并允许识别和记录表面纹理,包括缺陷(空腔,裂缝, dents)C地理坐标中的地理参考
机译:使扫描BIST体系结构适合低功耗运行的方法和扫描BIST测试配置
机译:基于动态扫描分组的低功耗测试
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