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摘要
第1章 绪论
1.1 MgF2薄膜结构与增透原理
1.2 MgF2系薄膜的性能及应用
1.2.1 单层MgF2薄膜的性能及应用
1.2.2 多层MgF2薄膜的性能及应用
1.3 MgF2增透膜制备工艺方法
1.3.1 蒸发法制备MgF2薄膜
1.3.2 磁控溅射法制备MgF2薄膜
1.3.3 提高MgF2薄膜性能的工艺方法
1.4 氧元素对MgF2薄膜的侵蚀及防护措施
1.4.1 空间材料环境分析
1.4.2 空间氧元素对MgF2薄膜的影响
1.4.3 防护措施
1.5 研究背景及主要内容
第2章 实验方法
2.1 光学薄膜设计与模拟软件
2.2 薄膜衬底及其预处理
2.3 薄膜的制备装置
2.4 薄膜的制备及后处理工艺方法
2.4.1 电子束蒸发镀膜制备工艺
2.4.2 离子束辅助镀膜工艺
2.4.3 薄膜退火工艺
2.4.4 氧离子束后处理工艺
2.5 薄膜的组织结构表征方法
2.5.1 X射线衍射仪
2.5.2 金相显微镜
2.5.3 场发射电子显微镜及X射线能量色散谱仪
2.5.4 x射线光电子能谱仪
2.6 薄膜的性能测试方法
2.6.1 紫外-可见分光光度计
2.6.2 四探针测试仪
2.6.3 霍尔效应测试系统
第3章 氧离子轰击对MgF2薄膜光学性能的影响
3.1 引言
3.2 氧离子轰击参数对MgF2薄膜光学性能的影响规律
3.2.1 单层MgF2薄膜的光学性能
3.2.2 氧离子能量对MgF2薄膜光学性能的影响
3.2.3 氧离子束流对MgF2薄膜光学性能的影响
3.2.4 轰击角度对MgF2薄膜光学性能的影响
3.3 MgF2薄膜沉积及后处理工艺对氧离子轰击效果的影响
3.3.1 薄膜沉积温度对MgF2薄膜耐氧蚀性的影响
3.3.2 离子束辅助沉积对MgF2薄膜耐氧蚀性的影响
3.3.3 退火热处理对MgF2薄膜耐氧蚀性的影响
3.4 氧离子轰击模拟空间原子氧方法与等效关系
3.5 氧离子轰击对MgF2薄膜光学性能影响机理研究
3.5.1 氧离子轰击对薄膜折射率的影响研究
3.5.2 MgF2薄膜氧蚀后的结构模拟与对比分析
3.6 小结
第4章 MgF2增透膜表面氧化防护层研究
4.1 引言
4.2 氧化物/MgF2双层增透膜设计原则
4.3 氧化物/MgF2系多层增透膜体系设计
4.3.1 MgO/MgF2系薄膜的设计
4.3.2 SiO2/MgF2系薄膜的设计
4.3.3 Al2O3/MgF2系薄膜的设计
4.4 薄膜的结构分析
4.5 多层薄膜的耐氧蚀性能及改善
4.5.1 MgO/MgF2系薄膜的耐氧蚀性
4.5.2 SiO2/MgF2系薄膜的耐氧蚀性
4.5.3 Al2O3/MgF2系薄膜的耐氧蚀性
4.6 小结
第5章 MgF2增透膜表面透明导电防静电层研究
5.1 引言
5.2 氧离子后处理对ITO薄膜结构及性能的影响
5.2.1 氧离子对ITO薄膜结构的影响
5.2.2 氧离子对ITO薄膜电学性能的影响
5.2.3 氧离子对ITO薄膜光学性能的影响
5.3 ITO/MgF2导电增透膜设计制备与性能分析
5.4 氧离子后处理对ITO/MgF 2薄膜性能的影响
5.5 小结
结论
参考文献
致谢
附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录