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摘 要
ABSTRACT
绪论
概述
研究内容
主要工作与章节安排
忆阻器与忆阻阵列阻抗测量与控制方法综述
忆阻器阻抗测量与控制方法综述
忆阻器阻抗测量方法综述
忆阻器阻抗控制方法综述
忆阻阵列阻抗测量和控制方法综述
忆阻阵列及其等效电路
忆阻阵列阻抗测量方法综述
忆阻阵列阻抗控制方法综述
小结
忆阻器阻抗测量与控制研究
阻抗测量与控制方法总体设计
忆阻器电铸研究
电铸机理分析
电铸实验系统
电铸过程参数控制研究
忆阻器编程脉冲参数研究
编程脉冲参数对阻抗控制的影响规律
编程脉冲参数影响规律的普遍存在性分析
忆阻器限流电路研究
限流电路对阻抗控制的影响分析
限流电路设计
限流电路性能验证
小结
忆阻阵列阻抗测量与控制研究
基于电压偏置方案的忆阻阵列阻抗测量和控制方法
忆阻阵列阻抗测量和控制系统现有方案性能对比
忆阻阵列阻抗测量和控制系统总体设计
忆阻阵列阻抗测量与控制系统关键电路设计
ADC电路设计
箝位放大器设计
地址选通单元设计
阵列线电阻设计
忆阻阵列阻抗测量与控制系统实现与性能评估
阵列阻抗测量与控制系统实现
性能测试方案
测试结果分析
小结
低转换电压型和高非线性度型忆阻阵列阻抗测量与控制研究
低转换电压型忆阻阵列阻抗测量与控制方法
基于加噪技术的低电压型阻抗测量方法
阻抗测量与控制电路实现和性能评估
高非线性度型忆阻阵列阻抗测量与控制方法
基于跨阻放大器的高非线性型阻抗测量电路
阻抗测量与控制电路关键电路设计
阻抗测量与控制电路实现和性能评估
小结
总结与展望
总结
未来工作计划
致谢
参考文献
作者在学期间取得的学术成果
