数字电路测试向量自动生成技术

摘要

数字电路测试向量自动生成一直是电子测试领域关注的焦点，是开发电路板／模块测试程序的难点，也是困扰我军如何高效合理利用现有自动测试设备和开发测试程序组合软件构成具有实用性的故障诊断系统的关键点。 测试向量生成最关键的技术是测试向量实用化算法的实现，通过对G—F二值算法的分析和研究，设计了一种新的方法和策略，采用正向敏化模式按有限回溯策略推导，凡在回溯次数内未能判明目标故障不可测的测试生成过程所产生的测试码都进行故障模拟。这种有限回溯策略加速测试生成，对提高系统效率起到了决定性的作用。在GF算法确立正反向驱动经过各类功能块和反馈线的时帧变化的基础上，把推导组合电路目标故障测试码的方法按迭代组合模型推广到同步时序电路，且用反向追踪中的时帧迭代实现迭代组合模型中的空间迭代。 通过对同步时序电路的分析和研究，结合数字电路的特点，建立其电路模型和故障模型，生成了电路的器件库，并可对电路进行故障模拟，生成故障字典，生成的故障字典供测试系统使用。数字电路测试向量自动生成的实现主要以提高数字电路测试向量自动生成算法的通用性和效率为主，力争解决电路板的故障测试向量生成问题。

目录

文摘

英文文摘

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1绪论

1.1研究目的

1.2研究背景

1.3国内外研究现状

1.4研究工作

2数字电路自动测试生成系统模型

2.1数字电路模型

2.2故障模型

2.3本章小结

3数字电路自动测试生成系统结构

3.1诊断数据库

3.2电路描述

3.3预处理

3.4测试生成

3.5故障模拟

3.6本章小结

4标准单元库建模

4.1标准单元库总体设计

4.2单元硬件信息结构与设计

4.3单元功能块信息结构与设计

4.4模拟仿真函数的实现

4.5 SDL数据结构

4.6本章小结

5软件设计方案

5.1设计需求分析

5.2软件总体设计

5.3本章小结

6全文总结

致谢

参考文献