面向结构化表面测量的子孔径拼接算法研究

目录

声明

1 绪 论

1 .1 课题来源

1 .2 研究背景和意义

1 .3 结构化表面

1 .3.1微结构元件及应用

1 .3.2微结构元件的表面微观形貌

1 .3.3测量现状

1 .4点云匹配和图像匹配算法概述

1.4.1图像匹配算法概述

1.4.2点云匹配算法概述

1 .5 论文章节结构安排

2 深度图的匹配预处理与特征描述

2 .1 表面深度数据的滤波降噪

2.1.1干扰来源分析

2.1.2常见的滤波算法

2 .2 特征描述与特征点提取

2.2.1 SIFT特征点提取方法

2.2.2 SIFT特征描述原理

2.2.3 SIFT与其他描述子的比较

3 基于特征点聚类的结构化表面数据拼接计算

3 .1 单应性矩阵求解与特征匹配对搜索

3.1.1单应性矩阵求解

3.1.2 RANSAC匹配对搜索

3 .2 基于均值漂移法的特征点聚类及匹配对搜索

3.2.1均值漂移特征点聚类

3. 2 .2聚类特征点的RANSAC匹配对搜索

3 .3 三维点云拼接计算

4 算法比较实验

4.1 三角形阵列

4.2圆弧形阵列

4.3 八边形阵列

4.4 矩形阵列

5 总结与展望

5 .1 总结

5 .2 展望

致谢

参考文献

附录 攻读硕士期间成果