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第1章绪论
1.1光折变效应
1.2光折变材料
1.3铌酸锂晶体国内外研究进展
1.3.1铌酸锂晶体的结构
1.3.2铌酸锂晶体本征缺陷结构模型
1.3.3铌酸锂晶体的掺杂改性
1.3.4掺杂LiNbO3晶体掺杂离子选择的标准
1.3.5光折变敏感杂质离子性能和作用
1.3.6双掺杂LiNbO3晶体的性能和应用
1.4 LiNbO3晶体抗光折变及倍频研究
1.4.1掺镁LiNbO3晶体的抗光折变及倍频效应
1.4.2其它掺杂LiNbO3晶体抗光折变及倍频效应
1.5铌酸锂在光学体全息存储中的应用
1.5.1光学体全息存储的特点
1.5.2光学体全息存储研究进展
1.6本课题的研究内容和意义
第2章试验材料和实验方法
2.1原材料来源及配比
2.2结构测试装置和方法
2.2.1钕含量分析
2.2.2晶体的均匀性检测
2.2.3双折射梯度自动扫描装置
2.2.4 X-射线衍射测试
2.2.5红外光谱的测试
2.2.6紫外-可见光谱测试
2.2.7 Zn:Nd:LiNbO3和Mg:Nd:LiNbO3的荧光光谱的测试
2.2.8 Cr3+离子的荧光寿命的测试
2.3晶体光折变性能的测试
2.3.1二波耦合指数增益系数的测试
2.3.2衍射效率的测试
2.3.3晶体的光激载流子类型的确定
2.3.4掺杂铌酸锂晶体的抗光折变性能测试
2.4晶体激光性能的测试
2.4.1激光振荡
2.4.2倍频性能测试
第3章晶体制备及质量分析
3.1铌酸锂晶体原料配比及元素的选取
3.2原料预烧结
3.3铌酸锂晶体生长
3.3.1铌酸锂晶体生长的设备装置
3.3.2晶体生长工艺参数的选择
3.3.3晶体生长过程
3.4晶体的极化及氧化还原处理
3.4.1晶体的极化
3.4.2晶体的氧化还原处理
3.5晶体加工
3.6晶体质量分析
3.6.1钕含量分析
3.6.2晶体的均匀性检测
3.8本章小结
第4章铌酸锂晶体的缺陷结构研究
4.1 X-射线衍射测试
4.2红外光谱的测试结果及分析
4.3紫外-可见光谱测试结果及分析
4.4荧光光谱测试结果及分析
4.4.1 Zn:Nd:LiNbO3和Mg:Nd:LiNbO3的荧光光谱的测试
4.4.2 Cr3+离子对Nd3+离子荧光的敏化
4.4.3 Cr3+离子的荧光寿命
4.5本章小结
第5章镁锌掺钕铌酸锂晶体光学性能的研究
5.1晶体光折变性能测试
5.1.1光折变效应
5.1.2光折变材料的基本性能
5.1.3二波耦合指数增益系数的测试
5.1.4衍射效率的测试
5.1.5光折变性能结果讨论
5.2晶体的光激载流子类型的确定
5.2.1不同类型光激载流子的判别
5.3掺钕铌酸锂晶体的抗光折变性能的研究
5.3.1掺钕铌酸锂晶体的抗光折变性能测试结果
5.3.2抗光损伤性能结果讨论
5.4钕系铌酸锂晶体激光性能
5.4.1激光振荡
5.4.2倍频性能测试
5.4.3光致暗迹对晶体倍频转换效率的影响
5.5本章小结
第6章镁锌掺钕铌酸锂晶体全息存储研究
6.1引言
6.2实时干涉计量
6.2.1原理
6.2.2实验结果
6.2.3讨论
6.3实时图象边缘增强
6.3.1实验结果
6.3.2讨论
6.4实时全息关联存储
6.4.1采用自泵浦位相共轭镜的关联存储器
6.4.2采用四波混频位相共轭镜的关联存储器
6.5本章小结
结论
参考文献
攻读学位期间发表的学术论文
哈尔滨工业大学博士学位论文原创性声明及哈尔滨工业大学博士学位论文使用授权书
致谢
个人简历