LXI自动测试系统集成技术研究
RESEARCH ON INTEGRATION TECHNOLOGIES OF LXI AUTOMATIC TEST SYSTEM
摘要
Abstract
第1章 绪论
1.1 课题来源、研究目的与意义
1.2 自动测试系统总线技术发展综述
1.3 LXI技术概述
1.3.1 从LAN到LXI
1.3.2 LXI发展现状
1.3.3 LXI的特点
1.4 自动测试系统软件技术综述
1.4.1 仪器驱动程序发展概述
1.4.2 测试应用程序发展概述
1.5 主要研究内容与论文结构
1.5.1 主要研究内容
1.5.2 论文结构
第2章 LXI自动测试系统硬件集成
2.1 LXI自动测试系统集成技术概述
2.2 LXI自动测试系统体系结构
2.2.1 LXI仪器概述
2.2.2 LXI系统拓扑结构
2.2.3 混合系统体系结构
2.3 LXI演示系统组建方案
2.3.1 LXI演示系统功能与需求分析
2.3.2 体系结构的选择
2.3.3 仪器设备的选择与集成
2.4 本章小结
第3章 LXI-C类仪器开发实例
3.1 LXI-C类函数发生器方案设计
3.1.1 设计要求与技术指标
3.1.2 硬件方案设计
3.1.3 软件方案设计
3.2 函数发生器硬件实现
3.2.1 硬件结构总览
3.2.2 嵌入式网络控制模块硬件实现
3.2.3 功能电路硬件实现
3.3 嵌入式驱动程序与调试面板程序开发
3.3.1 嵌入式驱动程序结构总览
3.3.2 嵌入式程序的交互式开发环境
3.3.3 SCPI指令解析函数设计
3.3.4 调试软面板程序
3.4 LXI-C类软件接口的实现
3.4.1 LAN配置
3.4.2 基于RPC技术的仪器发现
3.4.3 仪器网页的开发
3.5 本章小结
第4章 LXI自动测试系统软件开发
4.1 LXI自动测试系统软件开发环境与关键技术
4.1.1 软件开发环境的选择
4.1.2 软件开发的关键技术
4.2 LXI演示系统测试应用程序设计
4.2.1 测试应用程序设计目标与要求
4.2.2 测试应用程序软件框架
4.2.3 用户界面的设计与开发
4.2.4 信息管理模块设计
4.2.5 流程调度与执行模块设计
4.3 IVI-COM驱动程序开发实例
4.3.1 驱动程序框架的搭建
4.3.2 关键方法和属性的实现
4.3.3 驱动安装程序的开发
4.4 本章小结
第5章 调试与实验
5.1 LXI-C类函数发生器的调试
5.1.1 调试方案
5.1.2 参考电压扫描电路的调试
5.1.3 信号相位稳定性的提高
5.1.4 正弦信号幅频特性的补偿
5.2 LXI演示系统的调试
5.2.1 演示系统调试方案
5.2.2 调试中遇到的问题与解决方法
5.3 仪器互换性实验
5.3.1 IVI-COM驱动程序互换原理
5.3.2 互换性实验步骤及结果
5.4 本章小结
结 论
参考文献
攻读学位期间发表的学术论文
哈尔滨工业大学硕士学位论文原创性声明
哈尔滨工业大学硕士学位论文使用授权书
致 谢
哈尔滨工业大学;
