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基于集成电路自动测试系统的图样编辑工具和方法

摘要

本发明涉及集成电路自动测试行业,尤其涉及一种基于集成电路自动测试系统的图样编辑工具和方法。本工具包括:窗口分割模块和控制模块;窗口分割模块用于在图样的编辑界面上设置第一显示窗口、第二显示窗口、第三显示窗口;控制模块用于读取图样文件,并将图样文件中的管脚信息按行显示于第一显示窗口,每组管脚信息为一行;将图样文件中的图样数据按行显示于第二显示窗口;根据第二显示窗口被选取的行,在第三窗口显示该行图样数据或包含该行在内的多行图样数据的波形。本工具对芯片图样的显示模式进行了优化,并加入了可视化的波形画面来直观地显示该图样的时序内容,可读性更佳,极大地提升了芯片测试开发人员的工作效率。

著录项

  • 公开/公告号CN114002583A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 厦门芯泰达集成电路有限公司;

    申请/专利号CN202111289225.X

  • 发明设计人 张朝霖;冼贞明;马喆;

    申请日2021-11-02

  • 分类号G01R31/28(20060101);

  • 代理机构35218 厦门市精诚新创知识产权代理有限公司;

  • 代理人张锐

  • 地址 361000 福建省厦门市湖里区火炬东路11号创新创业园创业大厦1楼120室

  • 入库时间 2023-06-19 14:05:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-01

    公开

    发明专利申请公布

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