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红外热像仪FPT-120热成像系统的非均匀性校正研究

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文摘

英文文摘

第1章绪论

第2章红外热成像技术概述

第3章焦平面阵列的非均匀性及其校正

第4章实验与分析

第5章论文总结

参考文献

致谢

论文原创性声明

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摘要

1800年红外线的发现为研究、利用和发展红外热成像技术开辟了一条全新的广阔道路。红外热成像技术开始由于体积大成本高等原因仅仅限于军事应用,在焦平面阵列技术产生以后,使红外热像仪的体积、重量、成本都大大降低,如今越来越多的在民事方面得到了广泛的应用,比如在公安、消防、医疗、电力检测等领域均已经有红外热像仪的身影出现。 焦平面阵列技术带来了红外热成像技术的广泛应用,获取高质量红外图像已成为红外热成像技术领域中的一个重要课题。由于器件材料和制作工艺的影响,焦平面阵列中各阵列元的响应存在固有的非均匀性,这严重限制了红外成像系统的成像质量,使图像模糊不清,这在实际应用中是不可以接受的,因此对红外焦平面阵列进行非均匀性校正,获取高质量的红外图像成为红外热成像技术应用的关键之一。 本文首先介绍了红外热成像技术的发展现状,在讨论了非均匀性的定义,产生的原因,以及其表现形式的基础上,对现有的各种非均匀性校正算法进行了回顾并比较了他们的优缺点。最后以红外热成像技术在电力检测中的应用为背景,通过实际实验的方法,对一套特定的红外热像仪FPT-120进行非均匀性校正研究,其中用了三个参数来评价各种方法对于本套系统校正效果的优劣,确定了适合系统的最优校正方法,并完成了系统的定标工作。

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