在单测位分选机上实现2 Chips封装器件测试

摘要

本论文来源于广州南科集成电路封装厂成品测试车间对TSSOP-8封装的低压功率MOS器件的测试方法的研究。本文主要研究了如何在单测位分选机上实现双CHIPS器件的测试及分选。本文在此提出了一种基于CPLD可编程逻辑器件制作的切换板，该切换板可以在完成一个芯片的测试后将测试盒的测试端子自动切换到另一个未测的芯片的来实现在单测位分选机测试一个封装有两个芯片的器件。
　　 本设计的硬件平台是基于Altera公司的MAXⅡ器件系列的EPM240CPLD开发板，在QuartusⅡ开发环境下，采用VHDL语言进行系统设计。

目录

文摘

英文文摘

声明

第1章 绪论

1.1可编程逻辑器件的发展历史

1.2可编程逻辑器件的现状和未来发展动向

1.3尝试在设备改造中应用CPLD器件

第2章　课题的提出与方案的确定

2.1课题简介

2.2测试系统构成

2.3初步方案

2.4总结

第3章　切换板系统设计

3.1待测器件概述

3.2测试机的概述

3.3分选机概述

3.4设计方案

第4章　切换板系统实现

4.1切换板硬件系统平台

4.2切换板硬件系统设计

4.3软件开发环境

4.4 CPLD软件编制

4.5总结

第5章　总结与展望

参考文献

后记