儿童弥漫性轴索损伤的脑电图分析及临床意义

摘要

目的：
　　探讨脑电图（ Electroencephalogram，EEG）在弥漫性轴索损伤（Diffuse AxonalInjury，DAI）患儿临床诊治过程中的应用，为评估DAI的伤情严重程度、判断预后、评估后期可能出现的智力障碍程度及判断癫痫发作等方面提供参考，协助DAI患儿的临床治疗，提高患儿的生存质量。
　　资料与方法：
　　收集2013年07月至2015年09月我院神经外科住院治疗的111例DAI患儿的临床资料：应用入院时的改良格拉斯哥评分（Glasgow Coma Scale，GCS）和伤后原发性昏迷时间进行伤情分级；不同时期(伤后≤1周、伤后2周~1月、伤后3月~1年)的头皮EEG检查结果；随访期的格拉斯哥预后分级（Glasgow Outcome Scale，GOS）；0~4岁患儿的Gesell发育量表测定发育商（Development Quotient，DQ）及4.5岁~16岁患儿的韦克斯勒智力量表测验智商值（Intelligence Quotient， IQ）。以上各项资料的相关性分析采用秩相关检验，差异性分析采用秩和检验。
　　结果：
　　1.本组111例DAI患儿中轻型12例，中型23例，重型57例，特重19例；预后：恢复良好者32例；轻度残疾46例；重度残疾25例：暂时性植物生存（＜1月）3例、持续性植物生存（≥1月）4例；1例死亡。
　　2.使用秩相关检验分析DAI伤情严重程度与急性期EEG异常程度的相关性：两者之间存在正相关。
　　3.将本组病例不同时期EEG异常程度采用秩和检验的方法进行统计分析：不同时期的EEG异常程度有差异。其中急性期EEG以中度异常为主，恢复期EEG以轻度异常为主，随访期EEG以轻度异常及正常为主。
　　4.使用秩相关检验分析不同时期EEG的异常程度与COS的相关性：三个时期的EEG异常程度与DAI患儿预后分级之间均存在负相关。
　　5.本组患儿中42例年长儿行韦氏智力测试，其中正常水平者6例、边缘水平者12例、轻度低下者8例、中度低下者12例，重度低下者4例；17例婴幼儿行Gesell发育量表检测，其中轻度低下者11例，中度低下者3例，重度低下者3例，无正常水平及边缘水平者。
　　6.使用秩相关检验分析不同时期EEG的异常程度与韦氏评分的相关性：恢复期EEG异常程度与韦氏存在正相关，急性期和随访期的EEG异常程度与韦氏评分不相关。
　　7.使用秩相关检验分析不同时期EEG的异常程度与Gesell发育评分的相关性：随访期EEG异常程度与Gesell发育评分存在正相关，急性期和恢复期的EEG异常程度与Gesell评分不相关。
　　8.将DAI伤情严重程度与EEG痫样放电情况使用秩相关检验：两者之间存在正相关。
　　结论：
　　1.DAI伤情严重程度越重，急性期EEG异常程度越高。
　　2.急性期EEG异常率较高，随着伤情的恢复，EEG改变不断趋于好转或正常。
　　3.任何时期的EEG异常程度均能提示预后，异常程度越高，预后越差，持续性的EEG明显异常往往提示预后不良。
　　4.年长儿的恢复期EEG异常程度越重，伤后出现智力障碍越严重，急性期、随访期的EEG与其不相关。而婴幼儿的随访期EEG异常程度越重，智力障碍越严重。
　　5. DAI患儿创伤后癫痫的发生与患儿伤情严重程度有关，伤情越严重，越容易发生创伤后癫痫，EEG能发现亚临床惊厥发作并明确非癫痫发作的异常事件。