IPC-205B型扫描隧道显微镜的成像研究及其性能分析

摘要

扫描隧道显微镜(STM)作为纳米科技中最为有效和重要的检测加工手段之一，其应用随着纳米科技热的兴起而日益引起人们的重视，仪器本身的稳定性、图像质量、操作的简便性以及应用领域的拓展和产业化也越来越受到关注。 通过对STM基本原理的了解，针对IPC－205B型机的研制和应用过程中遇到的一些问题，重点研究了STM.IPC-205B的成像技术和性能,对其主要的缺陷和不足作了比较深入的研究和讨论，在此基础之上找出给现有STM仪器提升性能及增加新功能的可行性。并进行了大量的实验研究，获得了新的应用进展，积累了应用经验，为STM在国内的普及和产业化奠定了良好的基础。 本课题的主要任务是在对相关技术基础理论充分了解的基础上，对IPC－205B型机的成像技术和性能作详细研究。主要目的是为进一步优化仪器性能、完善系统操作、保证系统稳定性及分辨率积累基础研究。 本文将从扫描隧道显微镜的工作原理出发，简单介绍了IPC－205B型扫描隧道显微镜系统。重点对IPC-205B型扫描隧道显微镜成像和IPC-205B型扫描隧道显微镜的性能作深入分析。对于成像技术的研究主要包括扫描成像原理、图像的显示、STM图像处理及图像解释；对于IPC-205B型扫描隧道显微镜的性能的分析主要有STM.IPC-205B特点及分辨率、影响STM检测性能的因素以及STM.IPC-205B性能的检测实验。文章最后讨论了IPC-205B型扫描隧道显微镜的应用进展。