Aachen University of Technology, Laboratory for Machine Tools and Production Engineering;
Chair of Metrology and Quality Management, 52056 Aachen, Germany;
Chair of Metrology and Quality Management, 52056 Aachen, Germany;
Chair of Metrology and Quality Management, 52056 Aachen, Germany;
Optical Metrology; Manufacturing Process; rnQuality Control;
机译:质量制胜-基于计量的技术变得越来越强大,并且与生产过程(从设计到最终检验)的集成度越来越高
机译:演示非光学调节的攻丝模式近场扫描光学显微镜在纳米光学计量学和半导体光学表征中的应用
机译:纳米级计量:散射场光学成像可实现10 nm以下的计量
机译:光学计量能力的过程
机译:梯度折射率材料的光学相干断层扫描计量和自由形态光学表面
机译:光学计量学对聚(34-乙撑二氧噻吩):聚(苯乙烯磺酸盐)配方的光学性能的了解
机译:开发用于记录快速粒子形成过程动力学的光学计量学
机译:评估目前Nasa光学计量能力和建立内部Nasa光学计量组的建议