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Measurements of local photoemission from metal films by STM

机译:通过STM测量金属膜的局部光发射

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摘要

The local ultraviolet (UV) photoemission has been observed by using STM for the local characterization of the metal films. The change in the photoelectron current along and normal to the smaple surface has been measured as well as the bias depedence of photoelectron current.
机译:通过使用STM对金属膜进行局部表征,已经观察到局部紫外(UV)光发射。已经测量了沿着和垂直于枫表面的光电子电流的变化,以及光电子电流的偏置量。

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