Thin Film Nano and Microelectronics Research Laboratory, Texas AM University, College Station, TX 77843, USA;
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机译:柔性电子产品可靠性分析集成a-Si:H TFT扫描驱动器的案例研究
机译:自热效应对柔性基板上低温a-Si:H TFT的偏置应力可靠性的影响
机译:机械弯曲产生的重新分布的深层状态,以改善柔性基板上的a-Si:H TFT的电气可靠性
机译:用于柔性电子器件的A-Si:H TFT和铜互连线的可靠性
机译:铝铜互连线可靠性的X射线微束研究。
机译:铜低k互连中随时间变化的介电击穿:机理和可靠性模型
机译:应力控制在柔性有机聚合物箔基板上的a-si:H TFT中进行叠层配准
机译:a-si:H TFTs中的阈值电压不稳定性及其对柔性显示器和电路的影响