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Thermo-mechanical reliability loop in device modeling

机译:设备建模中的热机械可靠性回路

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摘要

3D device integration faces the designers with new thermo-mechanical design and device exploitation problems. Temperature dependent mechanical stress spreading across the device affects its performance. This paper discusses selected performance and reliability issues related device the mechanical stress and temperature influence.
机译:3D设备集成使设计师面临新的热机械设计和设备开发问题。与温度有关的机械应力会在设备上扩散,从而影响其性能。本文讨论了所选性能和可靠性问题,与器件的机械应力和温度影响有关。

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