I.B.M. T.J. Watson Research Center, P.O. Box 218, Yorktown Heights, NY 10598;
机译:扫描X射线微衍射法在多铁性BiFeO_3薄膜中三轴应变场的二维映射
机译:用亚微米白光束扫描X射线微衍射,以绘制薄膜中的应变/应力和方向图
机译:利用x射线微衍射研究外延BiFeO_3多铁性薄膜的电场诱导结构调制
机译:使用X射线微折磨研究的外延PBZRTIO_3铁电薄膜的电场诱导的结构调制
机译:薄膜结构的机械行为和电迁移的X射线微衍射研究。
机译:偏振依赖性X射线吸收在边缘结构附近探测的Pr0.67Sr0.33MnO3薄膜中的应变松弛效应
机译:使用X射线微折磨研究的外延BifeO3多体薄膜的电场诱导的结构调节