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Ab Initio Study of Si Doped Carbon Nanotubes: Electronic and Structural Properties

机译:硅掺杂碳纳米管的从头算研究:电子和结构性能

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摘要

We report the electronic and structural properties of silicon doped carbon nanotubes using first principles calculations based on the density-functional theory. In the doped metallic nanotube a resonant state appears about 0.7 eV above the Fermi level and for the semiconductor tube the Si introduces an empty level at approximately 0.6 eV above the top of the valence band.
机译:我们使用基于密度泛函理论的第一原理计算报告了硅掺杂的碳纳米管的电子和结构性质。在掺杂的金属纳米管中,共振态出现在费米能级之上约0.7 eV,并且对于半导体管,Si在价带顶部之上约0.6 eV处引入空能级。

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