Univ. of Twente, Enschede;
MOSFET; nanoelectronics; reference circuits; silicon-on-insulator; SOI FinFET technology; Si-JkJk; bandgap voltage reference circuits; bulk CMOS technology; size 32 nm; thin SOI layers; ultra-thin body multigate MOS transistor;
机译:使用分段曲率温度补偿技术从无电阻CMOS带隙基准电路产生低于1V的基准电压
机译:具有曲率补偿的低于1V的78-nA带隙基准
机译:具有失调补偿技术的新型低于1V的带隙基准
机译:32nm FinFET技术中的Sub-1V带隙电压参考
机译:基于阈值电压差架构的CMOS技术的低于1V的电源参考电压。
机译:具有嵌入式校准方案的动态pH传感器采用先进的CMOS FinFET技术
机译:32nm FinFET技术中的Sub-1V带隙电压参考