Electronic and Electrical Engineering Dept., University of Sheffield, Mappin Street, Sheffield, S1 3JD, UK;
机译:利用原位光学监测技术对厚GaN层进行氢化物气相外延生长
机译:氢气退火工艺对中Mn钢微结构演化和断裂微观机制的影响:原位TEM调查
机译:磁控溅射Al-Zr和Al-Zr-Si涂层热处理过程中显微组织演变的原位TEM研究
机译:通过原位光学监测,TEM和AFM技术与外延GaN生长过程中微观结构演变研究
机译:使用异位和原位TEM技术研究超细晶粒金属膜的力学行为和变形机理
机译:GaN核和InGaN / GaN多重外延生长导热铍上的量子阱核/壳纳米线氧化物基板
机译:原位TEm研究磁控溅射al-Zr和al-Zr-si涂层在热处理过程中的显微组织演变
机译:si上外延alN取向变化的微观结构分析,可能的来源及对随后GaN生长的影响