机译:基于多物理方法和电仿真的65nm体CMOS技术中的单事件瞬态建模
机译:在升高的温度下采用65nm体CMOS技术在nMOS和pMOS晶体管中进行单事件瞬态测量
机译:批量65 nm CMOS技术中的Alpha粒子和聚焦离子束诱导的单事件瞬态测量
机译:2D 250 NM散装CMOS技术中单事件瞬变的TCAD模拟
机译:温度对深亚微米体和绝缘体上硅数字CMOS技术中单事件瞬变的影响。
机译:使用多个无损信号采样的单光子CMOS成像像素的仿真和设计
机译:基于cmos技术中耦合物理和电气瞬态仿真的单事件闩锁建模