机译:钨膜的热线辅助ALD:CVD,蚀刻和ALD模式之间相互作用的原位研究
机译:添加剂气体对使用电感耦合卤素基等离子体的钨膜选择性刻蚀的影响
机译:通过氧等离子体蚀刻通过再循环使用Ni催化剂的化学气相沉积的石墨烯膜的厚度控制
机译:使用原位膜厚度传感器的钨等离子体蚀刻的开环预测控制
机译:实时原位化学传感,基于传感器的膜厚计量和W-CVD工艺中的工艺控制。
机译:聚合物/富勒烯共混膜的选择性湿蚀刻用于表面和纳米形态控制的有机晶体管和灵敏度增强的气体传感器
机译:通过湿法蚀刻和电化学监测,通过湿法蚀刻和电化学监测在电化学介孔二氧化硅膜中的厚度控制
机译:基于过程建模和原位传感器反馈的分子束外延和离子辅助反应蚀刻的先进半导体结构自适应控制。