Department of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo,skaneta@cryst.t.u-tokyo.ac.jp;
Department of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo,Institute of Engineering Innovation, The University of Tokyo;
Department of Electrical Engineering and Information Systems, The University of Tokyo,Center for Spintronics Research Network (CSRN), The University of Tokyo;
机译:N型铁磁半导体(LN,Fe)导通带底部的量子尺寸效应为薄膜
机译:APS -APS 3月会议2017 - 事件 - 观察N型铁磁半导体的导电带中的大型旋转分裂(IN,FE)
机译:n型电子感应铁磁半导体中的电子有效质量(In,Fe)As:导带传输的证据
机译:n型铁磁半导体(IN,Fe)的传导带底部的量子尺寸效应观察为薄膜
机译:p型氟化钡铜,氟化钡铜硒,氟化钡铜碲和n型氧化锌铟宽带隙半导体的脉冲激光沉积和薄膜特性。
机译:n型掺锌铁磁半导体的能带结构自发自旋分裂的观察
机译:n型掺锌铁磁半导体的能带结构自发自旋分裂的观察