フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析法を用いたリン光有機EL素子の劣化解析

摘要

有機EL素子の駆動により生じる劣化生成物を様々な質量分析法によって検出し、 劣化機構を解明する報告がされている"。我々はこれまでに、蛍光材料を用いた有機EL素子の劣 化解析にフーリェ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計(FT-ICR-MS)用いることで劣化生成 物の検出が可能であることを報告した2)。本研究ではIr(ppy)3を発光材料に用いたリン光有機EL 素子の劣化解析にFT-ICR-MSを応用した。その結果、Kondakov等が報告したホスト材料由来の 劣化物に加えて異なる劣化物の検出に成功したので報告する。