首页> 外文会议>2017年電子情報通信学会ソサイエティ大会大会論文集 >屈折率分散適応によるSS-OCT 膜厚計測の高精度化
【24h】

屈折率分散適応によるSS-OCT 膜厚計測の高精度化

机译:通过适应折射率色散,可以更高精度地测量SS-OCT膜厚

获取原文

摘要

SS-OCT (Swept Source Optical Coherence Tomography) は、10μm 級の高分解能で、動物体の断層画像を高速撮像する技術であり、我々はこのSS-OCT 技術を使った膜厚計測器用の波長掃引光源を開発している。SS-OCT は数十nm レベルの広帯域な波長掃引光を測定対象に照射後反射した光を利用するが、環境の変動等に起因して掃引波長帯域や光源強度が変動すると、屈折率波長分散の影響により、膜厚計測結果(PSF; Point spread function ピーク位置) も変動するという課題が有る。これに対して、PSF 生成処理に内包されるリスケーリングを測定対象の波長分散に適応させることにより、OCT 画像のSNR 改善や膜厚確度改善が可能となる。今回、同手法による高精度化を確認したので報告する。
机译:SS-OCT(扫频光源光学相干断层扫描) 这是一种用于对动物体的断层图像进行高速成像的技术,其分辨率为10μm级。 因此,我们将这种SS-OCT技术用于膜厚测量仪器的波长扫描光。 开发源代码。 SS-OCT具有数十纳米的宽波长 使用扫描光照射测量对象后反射的光,但环境会发生变化 如果扫描波长带或光源强度由于这些因素而波动,则折射率波长 由于分散的影响,膜厚测量结果(PSF;点扩散函数峰值) 存在位置也波动的问题。另一方面,PSF生成处理 使包含的重新缩放适应测量目标的波长色散 通过这样做,可以改善OCT图像的SNR和膜厚度精度。 将。这次,我们已经确认通过这种方法可以提高精度。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号