University of New Mexico;
Verigy Inc.;
University of New Mexico;
hardware security; process variations; unique identifier;
机译:利用物理不可克隆功能中的分布
机译:利用半导体制造过程变化:基于FinFET的物理不可渗透功能,可用于IOT中有效的安全集成
机译:通过物理不可克隆的功能在周围环境中进行防伪,密钥分发和密钥存储
机译:使用配电系统等效电阻变化定义的物理不可渗透功能
机译:测量配电系统的电阻变化,以用于可制造性和物理不可克隆功能的设计。
机译:最优性摘要:与物理不可分类的功能密钥协议
机译:利用物理不可克隆函数中的分布