Dept. of Electr. Eng., Princeton Univ., NJ, USA;
机译:基于符号可测性分析的RTL电路的BIST方案
机译:基于RTL数据路径并发单控件可测试性的BIST
机译:基于RTL数据路径并发单控件可测试性的BIST
机译:基于符号可测性分析的RTL控制器-数据路径的BIST方案
机译:基于菱形十二面体开放式晶胞第一个星群的欧拉路径的电子束熔化钛-铝-钒三维镶嵌的选择过程,改进的碰撞测试和失效分析。
机译:液基细胞学和高危人乳头瘤病毒试验不同组合方案在高级别宫颈病变筛查中的应用价值分析
机译:基于符号可测性分析的RTL控制器-数据路径的BIST方案