Department of Metal Physics Computer Technology for Materials Science St. Petersburg State Polytechnical University Polytekhnicheskaya 29, 195251, St. Petersburg, Russia;
local X-ray diffractometry; simulation; x-ray image;
机译:Si_(1-x)Ge_x / Si层的表征及其异质双极晶体管结构的深度轮廓通过高分辨率x射线衍射法和计算机模拟
机译:来自无应变层状单晶结构的X射线布拉格衍射轮廓:理论考虑,使用相位检索X射线衍射法的模拟和重构
机译:用于复杂薄层异质结构的结构研究的高分辨率X射线衍射仪和X射线反射仪技术:基于傅立叶变换的过程与仿真软件之间的互补性
机译:局部X射线衍射测定的计算机模拟
机译:残余应力的评估以及X射线衍射和声学方法的比较
机译:齐多夫定衍生物的预配制研究:酸解离常数差示扫描量热法热重法X射线粉末衍射法和水稳定性研究
机译:利用微聚焦X射线光谱仪的Ulsis局部应力分析技术和计算机仿真。
机译:高能3,5-二硝基1,3,5-恶二唑烷(DOD)的晶体和振动结构的单晶X射线衍射和拉曼光谱。