Department of Materials Science and Engineering, University of California, Berkeley;
机译:电子显微镜研究环境空气中多晶硅微机电系统的磨损
机译:用扫描隧道显微镜/光谱法测定功能过渡金属氧化物薄膜结构和电子性能的原子尺度研究
机译:扫描透射电镜研究应变超薄BaTiO_3薄膜的局部结构畸变
机译:利用片上测试和电子显微镜,在多晶硅结构薄膜中研究疲劳和磨损
机译:多晶硅结构薄膜的疲劳和磨损机理
机译:通过片上测试对多晶硅膜的力学和几何特性进行统计研究
机译:利用芯片测试和电子显微镜研究多晶硅结构膜的疲劳和磨损
机译:多晶硅结构薄膜的疲劳和磨损机理:博士论文