TEES Institute of Manufacturing Systems Industrial Systems Engineering Department Texas AM University MS 3131, College Station, TX, USA 77843-3131;
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Electron microscopy; nano metrology; quality and process control; scalable nanomanufacturing;
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机译:勘误表:用于MR化学位移成像数据的无网格交互式自动数据处理(物理,生物学和医学磁共振材料(2010)23(23-30)DOI:10.1007 / s10334-009-0186-y)
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