Polymers and Colloids Group Cavendish Laboratory University of Cambridge Madingley Road Cambridge CB3 0HE U.K.;
Microstructural Analysis Unit University of Technology Sydney Broadway NSW 2007 Australia;
机译:低压下可变压力扫描电子显微镜中与X射线显微分析有关的电荷相关问题
机译:在可变压力SEM中达到X射线显微分析最佳分辨率的新方法
机译:可变压力扫描电子显微镜对玻璃样品X射线显微分析光谱质量的充电效应示例
机译:可变压力环境中绝缘子的X射线微分析
机译:相对X射线谱线强度及其在单个标准程序中的应用,用于对大体积样品和薄膜进行定量X射线微分析。
机译:可变压力(环境)扫描电子显微镜中的X射线显微分析
机译:可变压力环境中绝缘子的X射线微分析
机译:蜂窝绝缘子设计在变高温高压环境中的应用。