Department of Materials Science and Metallurgy University of Cambridge Pembroke Street Cambridge CB2 3QZ UK;
机译:使用离轴电子全息技术对工作半导体器件进行定量静电势测绘
机译:离轴电子全息术,用于测量硅半导体器件中的活性掺杂剂
机译:离轴电子全息术,用于测量硅半导体器件中的活性掺杂剂
机译:使用偏离轴电子全全息术反向偏置半导体器件的定量检查
机译:使用离轴电子全息图表征半导体器件的静电势。
机译:细菌细胞和液体中磁性纳米粒子的离轴电子全息
机译:使用离轴电子全息技术对工作半导体器件进行定量静电势测绘
机译:半导体测量技术:关于微电子器件的sEm(扫描电子显微镜)检查的注释。