Institute of Physics, Faculty of Natural Sciences and Mathematics, Sts Cyril and Methodius University, Gazibaba b.b., 1000 Skopje, Macedonia;
机译:氮化硅上掺Ti的Ta2O5薄膜中泄漏电流的温度依赖性
机译:氮化硅上掺钛的Ta2O5的恒定电流应力
机译:氮化硅膜中电荷陷阱中心的电子自旋共振和光致发光研究以及建议的氧化物-氮化物-氧化物侧壁2位/单元非易失性存储器的制造
机译:在氮化Si上的Ti掺杂Ta2O5薄膜中的电荷捕获性能
机译:新型基于氮化硅的电荷陷阱栅功率半导体器件。
机译:聚酰亚胺/氮化硅纳米复合薄膜的介电性能和空间电荷行为
机译:错误:在N2O中氮化硅基板上生长的Ta2O5薄膜的介电性能