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机译:通过额外输入实现完整的延迟故障可测试性
Pomeranz I.; Reddy S.M.; Institute of Electric and Electronic Engineer;
机译:可测试性设计,可完全覆盖标准全扫描电路中的延迟故障
机译:并行矢量并发故障模拟器和路径延迟故障的单输入变化测试的生成
机译:在标准扫描电路中测试路径延迟故障所需的输入必要分配
机译:压缩机制可减少测试模式计数,并针对路径延迟故障进行分段延迟故障测试
机译:功能性消化不良患者胃肠道和胃肠外症状与胃排空延迟的关系
机译:关于最小化实现完全鲁棒路径延迟故障可测试性所需的测试点数量
机译:延迟故障测试程序,延迟故障测试设备和延迟故障测试方法
机译:延迟故障测试质量计算设备,延迟故障测试质量计算方法和延迟故障测试模式生成设备
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