Polarization effect; CdTe instability; Astro-H; HXI; long-term test;
机译:ASTRO-H硬X射线成像仪(HXI)的Si / CdTe半导体相机
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机译:实验室测试装置,用于研究Astro-H HXI中CdTe检测器的运行稳定性
机译:研究美国医院中自动临床实验室测试技术的传播速度和程度
机译:通过微波腔扰动在反应条件下原位测量催化剂粉末样品介电性能的实验室测试装置:设置和初始测试
机译:asTRO-H软伽玛射线的si / CdTe半导体康普顿相机 探测器(sGD)